1產(chǎn)品介紹

高加速應(yīng)力測試（HAST）結(jié)合了高溫、高濕度、高壓和時間，以測量元件的可靠性，無論是否具有電偏置。HAST測試以受控的方式加速了更傳統(tǒng)測試的壓力。它本質(zhì)上是一種腐蝕失效測試。腐蝕型故障加速，在較短的時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)包裝密封，材料和接頭等缺陷。
偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時間），但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測試周期。
偏置高加速壓力測試（BHAST）利用與HAST測試相同的變量（高壓，高溫和時間），但增加了電壓偏差。BHAST測試的目標是加速設(shè)備內(nèi)的腐蝕，從而加快測試周期。
HAST加速壓力測試與THB測試類似，因為故障是由相同的機制引起的。由此產(chǎn)生的故障以成比例的速率發(fā)生，并且可以在激活引擎之間找到相關(guān)性。電氣設(shè)備/組件更可靠，因此，數(shù)千小時的THB測試無法在短時間內(nèi)發(fā)現(xiàn)HAST腐蝕故障測試的弱點。
型的HAST測試條件包括110或130°C的溫度，85%RH的濕度和96小時的測試運行時間。一旦高度加速的壓力測試完成，測試的樣品將用防潮袋返回給客戶，并帶有測試時間標簽。HAST測試通常遵循JEDEC規(guī)范JESD22 A110，“高加速溫度和濕度壓力測試（HAST）”。

2參考標準

JESD22-A118 （無偏）
JESD22-A110 （偏置）
IEC 60068-2-66

3性能特點

• HAST已被開發(fā)用于取代溫度 - 濕度偏差（THB）測試
• HAST使用110至130 ?C的測試溫度，與THB測試相比，將測試時間縮短至96小時
• 干燥）高溫 130C， 相對濕度 85%， 壓力 33.3 psia
• （濕）高溫110C，相對濕度35%，壓力17.7標準

4應(yīng)用領(lǐng)域

• 電子學
• 半導體
• 太陽能
• 藥品
• 空間應(yīng)用

5技術(shù)參數(shù)

HAST型號	HAST-1000X-2（雙室）	HAST-1000X-2（高能）	HAST-6000X	HAST-9000X
測試箱規(guī)格	18*24 in	18*24 in.	18*24 in	18*50 in.
	44.5*61.5cm	44.5*61.5cm	60*60cm	81.2*127CM
外尺寸	77*108*190cm	93*102*215cm	100*130*195cm	140*250*220cm
可用空間	30*50*30cm	2*30*50*30 cm	42*50*38cm	50*60*48cm
重量	400kg	400kg	600kg	1586kg
電源要求	110-240 VAC,50Hz	110-240 VAC,50Hz	110-240 VAC,50Hz	110-240 VAC,50Hz 可選415VAC
設(shè)施要求	水	水	水	N2/CDA/冷凍水
溫度濕度	105 to 133@99%rh 110 to 140 @ 85%rh 118 to 150@65%rh		105 to 133@ 99%rh 110 to 140@85%rh 118 to 150@ 65%rh
壓力	2.1bar / 30.5psi / 2.1kg/cm2		56PSIG / 4KG / cm3 G
均勻度	1.5度 /5%	1.5度 /5%	1.5度 /5%	1.5度 /5%
加速時間	90min	90min	90min	90min
器件功耗	30W@135度/85%	60W@150度/85%	60W@135度/85%	2500W@110度/85%
裝載	10-15kg		20-25kg	50-60kg